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作物表型檢測儀更多

儀器分類

作物表型檢測儀

作物表型檢測儀是種專門用來檢測作物表型的科研儀器!它能對水稻、小麥、玉米、大豆等作物的株高、莖粗等各種表型參數進行快速檢測。這些參數能夠在作物品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。

水稻表型檢測儀TPS-BX-1

水稻表型檢測儀

型號:TPS-BX-1

TPS-BX-1水稻表型檢測儀主要用于測量水稻株高、穗長、夾角、莖粗、水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗穗粒數、著粒密度、總粒數和千粒重等指標,這些表型參數為水稻品種篩選、水稻產量預測、稻穗動態發育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發揮著至關重要的作用。

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小麥表型檢測儀TPM-BX-1

小麥表型檢測儀

型號:TPM-BX-1

小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標的測量,可多點快速取樣,數據可批量分析并獲取平均值。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。

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玉米表型檢測儀TPY-BX-1

玉米表型檢測儀

型號:TPY-BX-1

玉米表型檢測儀是種用于檢測玉米表型的儀器,能對玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、莖稈節間距和莖粗、葉長以及千粒重等相關表型參數進行快速檢測。儀器廣泛可用于各農科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究!

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大豆表型檢測儀TPD-BX-1

大豆表型檢測儀

型號:TPD-BX-1

大豆表型檢測儀也叫大豆表型檢測系統,主要用來檢測大豆夾角、大豆莖粗、總粒數和千粒重等大豆指標,能夠實現對大豆植株的非破壞性測量。而且儀器還具有大豆種子成像清晰、數粒速度快、范圍廣、智能修正等功能。同時檢測的大豆相關參數還能直接上傳至云平臺中,用戶可直接查看數據報表。

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